求解形位公差的檢測方法

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在測量某一形位公差時，往往會收到另一形位公差的干擾，比如，在測兩個圓孔的軸線垂直度的時候，會受到兩個圓孔的同軸度的影響，這樣雖然能得到垂直度，但是垂直度里面有同軸度的影響，得到的垂直度不是很可信，那應該怎么正確的測量一個受到干擾的形位公差，還有有沒有這樣一種理論，就是兩個形位公差相互干擾時，測得一個值，通過這個值的概率分布，可以得到這個值是同時滿足兩個形位公差。小弟愚昧，不知道這個問題提的對不對。
9 |  I! T  v2 v6 c$ n2 A) k' t小弟剛工作，還需要學習的很多，謝謝給位前輩的支點
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成歌2047

兩條圓孔軸線的垂直度，應該是沒法測量的吧？孔軸線的垂直度一般是標注對平面的垂直度。

未來第一站

1.尺寸，形位公差原則的第一條就是獨立原則
) f4 a, v+ [/ u4 U) ^5 a' a0 N2.上學時的書沒丟，好好看看 《互換性與測量技術基礎》