三坐標平面度的測量---請教

spaceship

請教各位：

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三坐標在測量平面度時，輸出的結果是怎樣計算出來的，和粗糙度有什么關系和區別？和傳統的檢測方法結果又有多大的不同？

一劍飄紅

一般說來，有兩種獲取數據的方法，單個打點獲得若干關鍵位置的點，如遠點與區域內比例點，詳情可見具體工藝要求或者國家標準對于平面度判定要求的取點原則。一般取３到４個點即可。另一個是掃描的方法，獲得高密度的點集。
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" q2 J; B5 q* _4 X+ d$ C" X如果是高密度數據，則數據的分析處理一般按照下面的思路。第一步，濾波，濾波分兩種情況，濾去平面波度變化的影響(可以通過設定截止波長或者截止頻率)和濾去評價長度上的個別壞點（可以通過＋/-3sigma變差篩選），濾波的目的是去除假點或者壞點，這些工作一般在編制程序時，從程序中選擇即可，無需自己編寫代碼。第二步，分析濾波后的數據，可以通過計算最小二乘平面，或者其它包容平面來計算平面度。第三步，輸出分析圖形或者平面度數值。

, m% ]  n/ `/ d如果是低密度數據，可以參照國標中分析數據的方法，如：三遠點建立基準平面，第４點到上述平面的距離即為平面度。等等。

天心

又學到了不少知識.
1 H; P8 @  Q, x* m' ^樓上的兄臺,能介紹一下最小二乘法嗎?像用最小二乘法如何計算圓的,等等.
謝謝了!!

spaceship

手動采點，4點能夠真實反映出平面度嗎，單個打點可不可以采多個點？

feifei2003

這完全取決于你的平面度的公差要求。顯然4個點應該是不夠的。3點確定一個平面。4個點平面度幾乎接近于0，沒有多大意義。應多采幾點，建議10個點以上。最好機床自動測量，探測方向沿著工件的法向方向，測量準確度較高。
平面度是比粗糙度更宏觀的概念。也就是說平面度是微米量級的，而表面粗糙度是更微觀的概念。
" f; n- |4 m) w" {' {8 h7 [三座標在測量平面度時，用測量點以最小二乘擬合一個平面，包容所有測量點的兩個平行平面間的距離為平面度。這兩個平行平面平行于擬合的最小二乘平面。
最小二乘法的原理是，所有測量點距離擬合元素（平面、支線、圓、圓柱）的距離的平方和最小。
7 l0 z! q# B9 i/ xEi=1-n（（Xi-XO)^2+(Yi-YO)^2-R^2）為最小。公式較復雜，自己推導吧。

spaceship

測量機測量出的平面度，與傳統的方法檢測出來的結果怎樣來比較？還有就是在平面度不好的情況下，兩個平面之間的尺寸是怎樣反映出來的，是不是用AVG，MIN，MAX，來綜合體現？

luxiang821

2樓一劍和5樓的feifei2003 說的已經很清楚了。
摟主所說傳統的方法，是不是拿個表座放在被測平面上（被測件較大）推表的方法啊。
$ b; p" p9 u% c* r如果是這樣，傳統的就是你所說的平均值、最小值、最大值。
二者的算法不僅不一樣，適用場合不同。測量機所采用的應該是接近理論的。
傳統的是滿足現場使用。嚴格來講應該采用測量機采點評定的方法。
9 z( G1 [  D1 `而且，平面度采點評定方法也不只最小二乘法一種，還有最小包容區域法、對角線平面法、三遠點平面法。以前和一劍交流過類似問題，一劍是高手我就不弄斧了。呵呵。
3 z# A+ }. b& e0 x3 v7 V, p3 L  s

spaceship

測量機采點受粗糙度影響較大，雖然說，測量機采用的是理論的，但是，實際使用時并不一定適合，

feifei2003

為什么說測量機采點受粗糙度的影響？難道你的平面度的公差只有0.001mm？如果要測得準，采點密度必須大。

spaceship

比如說，粗糙度12.5與0.8的結果會相同嗎？是不是，在探針的選擇上有什么要求？