2005年新頒布的焊接標準+ G' Q- r( m4 n# v5 V" v
- A+ x; F; l7 @ O$ M6 D; R0 \, N標準編號 標準名稱 代替的標準
d, V l) ]0 nGB/T 5185-2005 焊接及相關(guān)工藝方法代號 GB/T 5185-1985
8 A9 I/ x4 C4 mGB/T 6417.1-2005 金屬熔化焊接頭缺欠分類及說明 GB/T 6417-1986
1 L9 d1 s$ N( \4 p( wGB/T 6417.2-2005 金屬壓力焊接頭缺欠分類及說明 / Z" ^ }5 T, Y: ~, z
GB/T 19866-2005 焊接工藝規(guī)程及評定的一般原則 0 m7 b/ R7 Q2 V- O) p5 k
GB/T 19867.1-2005 電弧焊焊接工藝規(guī)程 ) y, g- t: L* R
GB/T 19868.1-2005 基于試驗焊接材料的工藝評定
9 K# [ ^# G% `! AGB/T 19868.2-2005 基于焊接經(jīng)驗的工藝評定 2 W7 _, Z5 {/ @( M* [% |
GB/T 19868.3-2005 基于標準焊接規(guī)程的工藝評定 2 T1 D: c {- ~/ Y. q
GB/T 19868.4-2005 基于預生產(chǎn)焊接試驗的工藝評定 * L( T; o% L. z% w9 T5 H* b1 C
GB/T 19869.1-2005 鋼、鎳及鎳合金的焊接工藝評定試驗 & Z/ T/ T9 j& u; f. K
GB/T 2900.22-2005 電工名詞術(shù)語 電焊機 GB/T2900.22-1985
" q3 t* e$ ~; v1 v* v; ^GB/T 3323-2005 金屬熔化焊焊接接頭射線照相 GB/T3323-1987 $ Z- h- o0 H: ]+ z. R' n: |# A
GB/T 19804-2005 焊接結(jié)構(gòu)的一般尺寸公差和形位公差 # F! k5 z* |6 k: S: H
GB/T 19805-2005 焊接操作工 技能評定 4 h+ g# i5 [1 F
GB/T 5617-2005 鋼的感應淬火或火焰淬火后有效硬化層深度的測定 GB/T5617-1985
0 A) P9 U, t1 i0 [! qGB/T 9450-2005 鋼件滲碳淬火硬化層深度的測定和校核 GB/T9450-1988
+ d; I P! A9 @ s! mGB/T 9451-2005 鋼件薄表面總硬化層深度或有效硬化層深度的測定 GB/T9451-1988 ; T9 G+ x' [; T' t$ Q
GB/T 11354-2005 鋼鐵零件 滲氮層深度測定和金相組織檢驗 GB/T11354-1989 1 T# P, H9 k c/ ~# Z, f5 I
GB/T 19879-2005 建筑結(jié)構(gòu)用鋼板 ; G) t) h* W$ w/ i
GB/T 12604.2-2005 無損檢測 術(shù)語 射線照相檢測 GB/T12604.2-1990
, h- |( y' i/ q) D0 ~ w2 P1 vGB/T 15822.1-2005 無損檢測 磁粉檢測第1部分：總則 GB/T15822-1995 # Y: {" b' J2 M2 A; {8 k/ G8 Q9 H
GB/T 15822.2-2005 無損檢測 磁粉檢測第2部分：檢測介質(zhì) / S( E5 m. K0 T3 _8 D P, K! f
GB/T 15822.3-2005 無損檢測 磁粉檢測 第3部分：設(shè)備
* @" C2 [; u. OGB/T 19937-2005 無損檢測 滲透探傷裝置 通用技術(shù)要求
5 O& ~( b* c3 d0 Q5 PGB/T 19938-2005 無損檢測 焊縫射線照相和底片觀察條件 像質(zhì)計推薦型式的使用
7 ^0 K0 |, q( fGB/T 19943-2005 無損檢測 金屬材料X和伽瑪射線 照相檢測 基本規(guī)則
$ |' [, F: t, p, B6 `: @7 eGB/T 12604.2-2005 無損檢測 術(shù)語 射線照相檢測 GB/T 12604.2-1990
( I* Q& C; _9 B, J) C$ {, sGB/T 19937-2005 無損檢測 滲透探傷裝置 通用技術(shù)要求 ) K1 b }1 |/ F' d, p8 X; E3 j1 s
GB/T 19938-2005 無損檢測 焊縫射線照相和底片觀察條件 像質(zhì)計推薦型式的使用 ! ?# v& a+ z$ j: r4 f7 {
GB/T 19943-2005 無損檢測 金屬材料X和伽瑪射線照相檢測 基本規(guī)則
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發(fā)表于 2006-12-22 23:31:34
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