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標題: 兩個相互干擾的形位公差該怎么測量 [打印本頁]

作者: dyq711    時間: 2016-8-28 11:40
標題: 兩個相互干擾的形位公差該怎么測量
在測量某一形位公差時,往往會收到另一形位公差的干擾,比如,在測兩個圓孔的軸線垂直度的時候,會受到兩個圓孔的同軸度的影響,這樣雖然能得到垂直度,但是垂直度里面有同軸度的影響,得到的垂直度不是很可信,那應(yīng)該怎么正確的測量一個受到干擾的形位公差,還有有沒有這樣一種理論,就是兩個形位公差相互干擾時,測得一個值,通過這個值的概率分布,可以得到這個值是同時滿足兩個形位公差。小弟愚昧,不知道這個問題提的對不對。) O3 [8 e; }  |' |, O" @
小弟剛工作,還需要學習的很多,謝謝給位前輩的支點

8 q, p% d+ r! p) T) S
作者: 寂靜天花板    時間: 2016-8-28 12:09
兩個圓孔有同軸度公差要求,怎么還會有兩個圓孔的垂直度要求
作者: 786187312    時間: 2016-8-28 13:24
孔的同軸度保證了,如果一個孔的垂直度保證,另一個孔自然也保證了2 l7 t5 h1 ]6 w# }; [

作者: 山中漁人    時間: 2016-8-28 14:59
本帖最后由 山中漁人 于 2016-8-28 15:00 編輯
: @4 N9 u5 J+ M3 t$ E' e7 O% K; ]# W2 C5 C5 w
同軸度保證了自然垂直度也就保證了!同軸度達不到垂直度也就達不到要求了
9 r+ e: q- e- E( t9 A  y8 ^不存在干擾啊!
% W" \# t. b- U0 V5 o
作者: oldpipe    時間: 2016-8-28 16:22
公差原則第一條——獨立原則。尺寸公差與形位公差之間,形位公差之間沒有關(guān)聯(lián)關(guān)系,各自獨立要求。3 o4 g: I! }0 Z1 R3 a& B

作者: 面壁深功    時間: 2016-8-28 17:22
不是基準和被測面,堅決逼空。也是的話執(zhí)行孔的最小實體條件原則吧。
作者: newmorn    時間: 2016-8-28 18:55
高中的數(shù)學函數(shù),定義域,值域,有幾個變量的話就研究不了了嗎?nono,這就是個簡單的問題而已。你要研究值域,總的先把定義域確定下來把?說了這么多其實想表達的就是@oldpipe 大俠講的---公差獨立性原則!別這里變,那里變的,純屬扯淡!
作者: dyq711    時間: 2016-8-28 21:36
oldpipe 發(fā)表于 2016-8-28 16:22
* C' ~& C2 g/ _- @# {. I公差原則第一條——獨立原則。尺寸公差與形位公差之間,形位公差之間沒有關(guān)聯(lián)關(guān)系,各自獨立要求。

. R/ ]! O: h9 b1 c, r0 n舉個例子假如我要得到兩個面的平行度,肯定是取不同點的兩個面的距離,然而這兩個面的平面度也有要求,那么得到的平行度里面是有平面度的誤差的,
$ U% [! X! ?: d/ G* C那正確的測量應(yīng)該怎么測量
( N& c* J: @) P; I1 Z小弟愚昧,請賜教
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作者: 未來第一站    時間: 2016-8-28 22:21
請注意公差獨立原則。
作者: 窩哥達    時間: 2016-8-28 22:21
平面度首先是單一要素,平面度與平行度沒有什么必然聯(lián)系,分清楚就好
作者: 軒轅天一    時間: 2016-8-29 06:49
dyq711 發(fā)表于 2016-8-28 21:36
) n4 Y+ U8 U# j1 h舉個例子假如我要得到兩個面的平行度,肯定是取不同點的兩個面的距離,然而這兩個面的平面度也有要求,那 ...

: W4 J: n2 a* c; i& \樓主看了五樓的發(fā)言了嗎?獨立原則啊,平面度測平面度的,平行度測平行度的,不用混為一談的
& x- B' w+ }3 f$ C
作者: 軒轅天一    時間: 2016-8-29 06:52
軒轅天一 發(fā)表于 2016-8-29 06:49% B: ]- K) N- O& i6 F* {* x
樓主看了五樓的發(fā)言了嗎?獨立原則啊,平面度測平面度的,平行度測平行度的,不用混為一談的

, r% g2 @6 g5 [( Y  ]) }9 e而且兩種公差的測量方法不同,只要各自保證滿足各自的公差要求即可。
8 X. @% r& [% e* C想到了鄧的不管白貓黑貓能抓老鼠的就是好貓
* M6 J" I0 G- h6 L- n1 E不管兩組或多組公差如何相互影響,只要保證各自的公差滿足圖紙要求便可以認為合格
" J4 d6 o0 X- B2 g
作者: 一星一億    時間: 2016-8-29 11:50
我也來學習
作者: dyq711    時間: 2016-8-29 20:14
軒轅天一 發(fā)表于 2016-8-29 06:52
5 T7 g( H+ m& t而且兩種公差的測量方法不同,只要各自保證滿足各自的公差要求即可。
7 [: w7 u" g- I3 l! ^+ l3 u想到了鄧的不管白貓黑貓能抓老鼠的 ...

$ I% u+ F, J/ p: G- k$ l0 g; ^那是不是測平行度的時候確實有平面度的影響,只不過不考慮平面度
6 E3 f. D, Y, s8 D
作者: oldpipe    時間: 2016-8-29 22:19
dyq711 發(fā)表于 2016-8-28 21:36+ k  B1 i* m+ H! R. j
舉個例子假如我要得到兩個面的平行度,肯定是取不同點的兩個面的距離,然而這兩個面的平面度也有要求,那 ...

$ c; S. |# s# C就拿你圖示的這個例子來說:平行度的概念是:從底面向上移動一個理想的、平行于底面的平面,直到與頂面第一點接觸,記錄這時的高度,平面繼續(xù)向上移動,直到與頂面最后一個點接觸,記錄第二個高度,兩個高度的差,即為頂面對底面的平行度誤差。測頂時,1、將底面放在測量平板上(這時認為底面和平板為理想平面,實際上,這兩個面只有三點真接觸),2、在頂面取n點打表測量高度,
6 O0 N4 U, Q% `1 |6 b/ G$ O- }' X0 O3、最大高度-最小高度=測得的平行度誤差。( a8 h+ g) x, G$ d0 V& o2 G

. k6 H& I6 h; C( x平面度的概念是:用一個理想平面去靠被測平面,或者反過來,把被測平面放在理想平面上,可以想象,實際上不平的被測平面會有凹凸,如果凸向與平面接觸,這種接觸不穩(wěn)定,這時反過來,從凹向接觸理想平面,得到穩(wěn)定的接觸,再做第二個理想平面,平行于前一個,與被測平面的最高點接觸,兩理想平面間的距離為測得的平面度。實際可能出現(xiàn)多個穩(wěn)定接觸的情況,理論上給出的原則是:最大最小,即,按前述方法,逐個測量,測量過程以最大高度為測量平面度,最后取所有測量平面度中的最小的一個作為這個被測表面的平面度。
8 s, Q& O" s- F, C% t0 P2 f+ n: d0 p$ R
回到你的這個例子上,實際測量時比較常用的方法是:一條邊的兩個頂點和對邊的中點,用精密千斤頂頂起,千分表或百分表與千斤頂配合,使三點等高,再在頂面上移動測量表,測到最高點和最低點,高度差即為平面度。0 `9 [% a1 c4 o3 i! H; h

4 \+ R6 ^  A# f/ v, @; v應(yīng)該能想明白:一般來說,測出的平面度小于平行度。
) f) F% B  a0 R, ^. P" F
作者: dyq711    時間: 2016-8-29 22:33
oldpipe 發(fā)表于 2016-8-29 22:19" j3 A9 d$ |+ t3 \
就拿你圖示的這個例子來說:平行度的概念是:從底面向上移動一個理想的、平行于底面的平面,直到與頂面第 ...

6 x8 u6 T0 t+ f. w: d3 ~. v; K那在測平行度的時候怎么找這個理想的平面# E0 U! O8 u1 o  R% x

作者: oldpipe    時間: 2016-8-29 23:20
dyq711 發(fā)表于 2016-8-29 22:336 e: E) D. r# H
那在測平行度的時候怎么找這個理想的平面
( [- l, Q- v6 D0 C- Y
……將底面放在測量平板上(這時認為底面和平板為理想平面……
3 q' |' w' G, l# o5 g+ {
作者: xiaodongping    時間: 2016-9-18 14:11
寂靜天花板 發(fā)表于 2016-8-28 12:09
' H: g7 B: M1 v1 t4 ?$ A4 p$ ~兩個圓孔有同軸度公差要求,怎么還會有兩個圓孔的垂直度要求

  k) ?8 t  O. D. a8 b+ @8 C* |同問
4 E# T1 d5 K' S0 q. U7 F
作者: militery1    時間: 2016-12-9 13:31
有很多情況往往就是做基準的部位本身形狀公差誤差就大,反過來要去要求另一個要素的位置公差。這個本身就是不合格的東西再怎么測都沒用的。需要精修測量基準才行
作者: JXTTTTT    時間: 2018-7-11 16:23
我又來賺威望啦!!!
作者: JXTTTTT    時間: 2018-7-11 18:03
我又來賺威望啦!!!




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