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標題: 怎么能快速檢測IC芯片? [打印本頁]

作者: 無情的愛情之劍    時間: 2015-10-24 22:20
標題: 怎么能快速檢測IC芯片?
我畢業后在一家公司做質量檢測,經常碰到很多新樣品需要檢測,這個來了一款MOS管,我用萬用表測出柵極與漏極之間的電阻,并檢測了一下外觀,特別注意了引腳是否氧化了,我給的檢測報告是合格的,但是生產在試產時卻反映該款MOS管容易擊穿,發熱嚴重,技術部門把這批MOS出現的現象劃到我這邊的責任,怪我沒有做治具檢測,但是我才參加工作,而且測試員這份工作也是我第一次干,我怎么會做治具?找到工藝部的,他們說這種治具是我實驗室自己做的,現在你推我,我推你的,已經耽誤了很久,得知下個月又將來幾批IC,現在很急,所以,請各位前輩指導一下,謝謝 了
作者: 無情的愛情之劍    時間: 2015-10-24 22:23
上次的質量事故罰了我五十塊,我實驗室這邊關于IC這塊的電性測試實在是沒有條件進行,可是總是推到實驗室里來,煩死我了,這個禮拜,領導通知下個月的IC來樣批次多,希望我不要讓他失望,我去研發部門請求他們協助,他們總當我是新來的不愿搭理我,好煩啊
作者: 人大太犬    時間: 2015-10-24 23:46
技術部門都是xx,技術部門都是xx,技術部門都是xx。很重要說三遍。
( f! h- J9 M5 q" ]8 m2 c( Q$ i首先,os管的擊穿 和你基本沒什么關系,管子不光有靜態額定電壓,電流和寄生電容,而且存在動態參數,比如電壓上升率。電流上升率。反向重復電壓,f結節最高工作溫度等等。任何一個參數超了都可能擊穿,也就是說完全是選型的問題。" {" \( r+ }& i
你完全是個替死鬼,從技術層面上來說先去搞一份上次管子的說明文檔,然后讀幾遍,總結下擊穿可能原因,和老大談談,態度要好讓他明白你不是隨便捏的柿子,跟他談清楚工作范圍(我是干質量檢測,不負則選型,來的樣品需要測試什么參數先說好,那個能測那個沒條件測講清楚)。
# [9 e* G$ v  v) E說了這么多,總結就一句話,替死大多數是糊涂鬼。
作者: 門童    時間: 2015-10-25 08:21
操,上板能用關質檢*事呀,容易擊穿,溫升過快是設計的事情,一個是選型不合理,另一個電路有問題!比如型號不行,廠家不行,設計的散熱不好,電流電壓過大,功率過大,輸入輸出阻抗不匹配 ,反向電壓過高(C-E間沒并接限位二極管),過流、過壓、過熱電路沒做好未起到保護館子的作用。
0 c6 q0 `/ E% I一句話:設計很垃圾,沒質檢什么事!
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作者: 359851901    時間: 2015-10-28 00:34
資料不錯,謝謝
作者: yu351204507    時間: 2015-10-28 14:49
如3樓所說,你要明白你的工作范圍,至于IC的使用條件,選型基本沒你的事,做ic檢測用到的治具,也是要新做的,畢竟每次產品都不一樣,這你就要明白需要測試什么參數了。我是做設備,做治具的。直接去找你們老大吧,或者去找工程的老大




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